供應(yīng)IEC60068-2-32 GB/T2423.8跌落測(cè)試

跌落測(cè)試 ----

跌落測(cè)試通常是主要用來(lái)模擬未包裝/包裝的產(chǎn)品在搬運(yùn)期間可能受到的跌落，檢驗(yàn)產(chǎn)品抗意外沖擊的能力。通常跌落高度是根據(jù)產(chǎn)品重量以及可能掉落機(jī)率做為參考標(biāo)準(zhǔn)，落下表面應(yīng)該是混凝土或鋼制成的平滑、堅(jiān)硬的剛性表面（如有特殊要求應(yīng)以產(chǎn)品規(guī)格或客戶(hù)測(cè)試規(guī)范來(lái)決定）。

跌落測(cè)試根據(jù)檢驗(yàn)的目的及樣品的類(lèi)型不同，可以分為自由跌落、定向跌落、微跌落、零跌落。對(duì)于不同國(guó)際規(guī)范，即使產(chǎn)品在相同重量下但掉落高度也不相同，對(duì)于手持型產(chǎn)品(如手機(jī), MP3等)大多數(shù)掉落高度大都介于100cm ~ 150cm不等，IEC對(duì)于≦2kg之手持型產(chǎn)品建議應(yīng)滿(mǎn)足100cm之掉落高度不可損壞，MIL則建議掉落高度為122cm，Intel對(duì)手持型產(chǎn)品(如手機(jī)）則建議落下高度為150cm。試驗(yàn)的嚴(yán)苛程度取決于跌落高度、跌落次數(shù)、跌落方向。

參考標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 2423.8電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ed:自由跌落

IEC60068-2-32電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ed:自由跌落

GB/T4857.5包裝 運(yùn)輸包裝件 跌落試驗(yàn)方法